革新生产流程:自动化外观检测系统引领陶瓷基板与引线框架品质新高度
来源: | 作者:标谱半导体 | 发布时间: 2025-02-17 | 65 次浏览 | 分享到:

在高科技飞速发展的今天,陶瓷基板和引线框架作为电子元件的核心部件,其品质直接关系到终端产品的性能与可靠性。然而,传统的人工外观检查方式因受限于操作员的视觉疲劳与个体差异,往往难以保证100%的质检准确率,导致不良品流出,影响企业形象与客户满意度。为解决这一行业痛点,我们隆重推出了一款专为陶瓷基板与引线框架设计的自动化外观检测系统,以科技力量重塑生产流程,确保每一件产品都符合高标准的质量要求。

一站式自动化流水作业,重塑质检流程

本系统集成了上下料机、AOI(自动光学检测)外观检测机等核心设备,实现了从物料上料到检测下料的全程自动化作业。上下料机精准定位,快速抓取,确保检测流程无缝衔接;AOI检测机则运用高精度光学传感器,对陶瓷基板与引线框架进行全面扫描,无论是微小的划痕、污渍还是结构缺陷,都难逃其“法眼”。

精准测算,激光打标,不良品无处遁形

我们独创的可测量式算法,能够根据客户设定的不良项目标准,对检测到的异常进行精确计算,确保每一项检测都有据可依。一旦发现不良品,系统立即启动激光打标功能,在不损伤产品主体结构的前提下,对不良位置进行永久性标记,便于后续分拣与处理。这一创新设计,不仅提高了检测效率,更大大降低了人为误判的可能性。

高速扫描,智能分析,品质管控再升级

系统内置的高速移动平台与高倍镜头组合,如同精密的“电子显微镜”,能够在极短时间内完成对大量样本的高清图像抓取。结合先进的图像处理算法,系统能够自动识别并分析不良尺寸、形状等特征,生成详尽的检测报告与统计表,为客户提供直观的品质分析数据,助力生产流程的持续优化。