智能外观检测系统:革新陶瓷基板与引线框架质检新模式
来源: | 作者:标谱半导体 | 发布时间: 2025-05-16 | 0 次浏览 | 分享到:

在电子制造领域,陶瓷基板和引线框架作为关键组件,其外观质量直接关系到最终产品的性能与可靠性。传统的人工外观检测方式,受限于人员疲劳、视力差异等因素,难以保证检测的准确性和一致性,导致出货不良品时有出现,给企业带来巨大损失。在此背景下,一款集上下料机、AOI外观检测机等设备于一体的一站式自动化流水作业系统应运而生,为陶瓷基板和引线框架的外观不良检查提供了高效、精准的解决方案。

该系统以解决陶瓷基板、引线框架在生产流程或出货前的外观不良检查为核心目的。以往,人工检测不仅效率低下,而且容易出现漏检、误检的情况。长时间的工作会使检测人员产生疲劳,视力也会受到影响,从而无法准确识别细微的外观缺陷。而这款系统通过自动化设备替代人工,从根本上解决了这些问题。上下料机实现了产品的自动上料和下料,无需人工干预,大大提高了生产效率。AOI外观检测机则利用先进的技术手段,对产品进行全面、细致的检测,确保每一个产品都符合质量标准。

其可测量式算法是该系统的一大亮点。针对客户指定的不良项目,系统能够进行精准测算。无论是陶瓷基板上的划痕、裂纹,还是引线框架的变形、氧化等问题,算法都能准确识别并计算其尺寸和严重程度。通过这种方式,系统可以快速排除不良异常,将不良品与合格品进行有效区分。同时,采用激光打标方式标注不良品,使得后续的处理更加便捷,避免了不良品混入合格品中的风险。

在检测过程中,系统运用高速移动平台和高倍镜头扫描方式抓取图像。高速移动平台能够快速、平稳地将产品移动到检测位置,确保检测的高效性。高倍镜头则可以对产品进行高精度的扫描,捕捉到极其细微的外观缺陷。内部算法再对这些图像进行测算,分析产品的异常和漏洞。例如,对于陶瓷基板上的微小气孔,系统能够通过图像分析和算法测算,准确判断其是否在允许的范围内。

最终,系统会生成详细的统计表提供给客户。统计表中包含了检测产品的数量、不良品的数量、不良项目的分布情况等信息。客户可以根据这些数据,对生产过程进行深入分析,找出问题所在,及时调整生产工艺,提高产品质量。这种数据驱动的质量管理模式,有助于企业实现精细化生产,提升市场竞争力。

这款智能外观检测系统以其先进的技术和高效的工作模式,为陶瓷基板和引线框架的外观检测带来了革命性的变化。它不仅提高了检测的准确性和效率,降低了出货不良率,还为企业提供了有价值的数据支持,帮助企业不断优化生产流程,实现可持续发展。