在芯片产业高速发展的今天，高效测试成为企业提升竞争力的关键因素。深圳市标谱半导体股份公司的全自动探针台，以其高效的测试能力，满足了芯片产业的快节奏需求。

高速运转，快速采集

全自动探针台在高速运转的状态下，通过探针主动下压点亮芯片，迅速采集电性数据及光学数据。这种高效的采集方式，大大缩短了测试时间，提高了测试效率。与传统的测试设备相比，能够在更短的时间内完成更多芯片的测试任务。

多针同步，提升效率

设备最多可20针同步测试，实现了多芯片的同时检测。这一设计充分利用了测试时间，避免了单针测试的等待时间，进一步提升了测试效率。对于大规模生产的芯片企业来说，能够显著缩短生产周期，提高产能。

兼容多样，灵活应对

芯片种类繁多，尺寸各异。全自动探针台具有良好的兼容性，最小可测3x3mil、最大可测120x120mil的芯片，能够适应不同尺寸芯片的测试需求。承片治具支持多种规格，如7寸子母环、4寸特规小铁环和6寸DISCO铁环等，为企业提供了灵活的选择。

集成稳定，保障运行

搭载标谱自主开发的集成系统和高精度测试仪，全自动探针台实现了整机高集成化布局。系统高效稳定，能够在长时间运行中保持准确的测试性能，减少了设备故障和停机时间，为高效测试提供了有力保障。

深圳市标谱半导体股份公司的全自动探针台，以高效测试为核心优势，为芯片产业的快节奏发展提供了有力支持，助力企业在激烈的市场竞争中脱颖而出。