在芯片尺寸不断缩小的趋势下，测试精度已成为衡量设备性能的核心指标。标谱全自动探针台以微米级精度，为芯片的“微观世界”提供精准的检测服务。

微米级定位：XYθ工作台的“精密舞步”
设备采用高精度XYθ工作台，配合亚微米级视觉定位系统，可实现芯片引脚的精准识别与定位。XY重复定位精度≤5μm，确保探针在高速下压过程中不偏移，避免因接触不良导致的测试误差。

光学与电性：双模数据的“同步捕捉”
在探针接触芯片的瞬间，设备可同步采集电性参数（如电压、电流）与光学参数（如亮度、波长）。这种“双模检测”模式，不仅提高了测试效率，更通过数据交叉验证提升了测试结果的可靠性。

晶粒级检测：每个芯片的“独立档案”
设备支持对每个晶粒进行独立测试，并生成详细的电气特性与光学参数报告。这种“一粒一档”的检测方式，为芯片分选与良率分析提供了数据支撑，帮助企业快速定位产线问题。

从微米级定位到双模数据采集，从晶粒级检测到独立档案生成，全自动探针台以高精度测试技术，为芯片的“微观世界”提供了全景式的检测服务。