转塔式分选机:多站检测,全方位保障半导体芯片品质
来源: | 作者:标谱半导体 | 发布时间: 2025-11-13 | 124 次浏览 | 分享到:

在半导体制造中,对芯片品质的全方位保障至关重要。转塔式分选机凭借其多站检测功能,为半导体芯片品质提供了全方位的保障。

多站协同,全面检测芯片

转塔式分选机配备的主测试站(最大6个)和拓展副站(最大6个)能够协同工作,对芯片进行全面的检测。主测试站主要负责芯片的电气性能测试,如电流、电压、频率等参数的测量;拓展副站则可以对芯片的外观、引脚完整性等进行检查。多站协同检测,确保了芯片在各个方面都符合质量要求。

严格筛选,剔除不良器件

通过多站检测,转塔式分选机能够严格筛选出不良器件。一旦发现芯片在某个检测站出现不合格情况,设备会立即将其标记并剔除,防止其进入后续的生产环节。这种严格的筛选机制,有效提高了产品的良品率,降低了企业的质量成本。

数据记录,便于质量追溯

设备在检测过程中会记录每一个芯片的检测数据。这些数据可以用于质量追溯,当出现质量问题时,企业可以通过查询检测数据,快速定位问题所在,采取相应的措施进行改进。数据记录功能为企业的质量管理提供了有力的支持。

转塔式分选机以其多站检测功能,为半导体芯片品质提供了全方位的保障。它通过严格筛选和数据记录,确保了产品的质量稳定性,帮助企业提升了市场竞争力。