全自动探针台:半导体测试的“多面手”
来源: | 作者:标谱半导体 | 发布时间: 2025-11-24 | 11 次浏览 | 分享到:

在半导体芯片测试的复杂场景中,一款功能全面的设备能为企业带来诸多便利。标谱全自动探针台,就是这样一位“多面手”。

兼容多种芯片类型:标谱全自动探针台兼容正装、倒装LED芯片、CSP LED等多种芯片类型。无论企业生产的是哪种类型的芯片,都能使用该设备进行光学及电性测试,无需为不同类型芯片配备多台设备,降低了企业的设备采购成本。

覆盖广泛芯片尺寸:设备可测试的芯片尺寸范围广泛,最小可测3x3mil,最大可测120x120mil。这种广泛的尺寸兼容性,使得企业无需根据芯片尺寸频繁更换测试设备,提高了设备的利用率和生产效率。

多针同步测试提升效率:最多可20针同步测试是标谱全自动探针台的一大特色。在测试过程中,多针同时工作,能快速完成对多个晶粒的检测,大大缩短了测试时间,提高了整体测试效率,满足了企业大规模生产的需求。

稳定高效的系统保障:设备搭载标谱自主开发的完善、稳定、高效能的运动控制、视觉算法、光电测试软件集成系统和高精度测试仪。这一系统经过严格测试和优化,能确保设备在长时间运行过程中保持稳定,为企业提供可靠的测试数据。

标谱全自动探针台以其兼容多种芯片类型、覆盖广泛芯片尺寸、多针同步测试和稳定高效的系统,成为半导体芯片测试领域的“多面手”,为企业的发展提供有力支持。