公司新闻
展会新闻
行业新闻
产品新闻
核心应用:标谱倒装芯片探针台专为正倒装LED芯片设计,能够高效、准确地完成对这些芯片的电气特性和光学参数的测试。
测试能力:通过多针同步测试和高精度运控及视觉系统,设备能够实现对不同尺寸(3x3mil至120x120mil)的正倒装LED芯片的全面测试。
兼容性:除了正倒装LED芯片外,该设备还适用于CSP(Chip Scale Package,芯片级封装)LED芯片的测试。CSP LED芯片作为一种高度集成的封装形式,对测试设备的要求同样很高。
测试优势:标谱倒装芯片探针台的高精度和高效能特性,能够满足CSP LED芯片在测试过程中的严苛要求。
扩展应用:虽然该设备主要针对LED芯片设计,但其高精度运控及视觉系统、多针同步测试等先进技术,也为测试其他微电子器件提供了可能。
潜在应用:包括但不限于集成电路、半导体芯片等微电子器件,在需要高精度、高效率测试的场景下,标谱倒装芯片探针台均可作为备选方案。
标谱倒装芯片探针台主要适用于正倒装LED芯片、CSP LED芯片以及其他需要高精度、高效率测试的微电子器件。