全自动探针台:集成化设计,打造紧凑省空间测试方案
来源: | 作者:标谱半导体 | 发布时间: 2026-02-05 | 27 次浏览 | 分享到:

紧凑布局赋能,适配受限场地场景

工业生产场地资源紧张,传统芯片测试设备体积庞大,且需额外搭配上下料装置,占用大量场地空间,增加企业场地运营成本。标谱全自动探针台采用高集成化设计,将自动上下料功能与测试功能一体化整合,打造紧凑省空间的测试方案,适配各类场地布局需求,尤其适合中小型企业与场地受限的生产场景。

一体式上下料设计,无需额外占用空间

设备采用内置一体式自动上下料设计,将上下料机构与测试主机集成一体,无需额外配置独立上下料设备,大幅节省场地空间。上下料机构运行顺畅,可实现芯片的自动输送、定位与收纳,全程无需人工干预,既减少场地占用,又提升测试流程的自动化水平,降低人工操作强度。

高集成化布局,优化设备整体体积

整机采用高集成化布局,将运动控制、视觉检测、光电测试等核心模块紧凑整合,在保障设备性能的前提下,最大限度压缩设备体积,让设备可灵活摆放于各类生产场地。集成化设计不仅减少了设备占地面积,还简化了设备安装流程,降低设备运输与调试成本,提升设备的实用性与便捷性。

省空间兼顾实用性,适配多元生产场景

紧凑的体积设计并未牺牲设备性能,设备依旧保持稳定高效的测试能力与广泛的兼容性,可适配规模化生产与定制化测试等多元场景。对于场地资源紧张的企业而言,标谱全自动探针台的省空间优势,可有效优化场地布局,提升场地利用率,同时降低企业的场地运营成本,实现性价比最大化。