兼容多元场景，降低企业测试投入
随着LED产业的快速发展，芯片品类不断丰富，正装、倒装LED芯片、CSP LED等各类芯片的规格与测试需求差异显著，传统探针台适配性有限，企业需投入大量成本购置多台设备。标谱全自动探针台聚焦多元测试需求，打造全品类兼容优势，一台设备可覆盖多规格、多类型芯片测试，大幅提升设备利用率。
多类型芯片适配，打破测试品类壁垒
设备具备极强的兼容性，可灵活适配正装、倒装LED芯片、CSP LED等多类芯片的光学及电性测试，无需更换核心组件，只需简单调整测试参数，即可完成不同类型芯片的测试切换。这种全类型适配能力，打破了传统设备的品类限制，适配芯片生产企业的多元测试场景，减少设备重复投入。
宽尺寸覆盖，适配不同规格芯片测试
在芯片尺寸适配方面，设备可覆盖3×3~120×120mil的宽尺寸范围，无论是微小尺寸的精密芯片，还是大尺寸芯片，都能实现精准测试。同时，承片治具支持7寸子母环、4寸特规小铁环和6寸DISCO铁环等多种规格，进一步拓宽了设备的适配范围，满足企业不同规格芯片的测试需求，提升测试灵活性。
多针同步测试，兼顾兼容与效率
设备最多支持20针同步测试，在兼容多类型、多规格芯片的同时，可大幅提升测试效率，适配中小批量定制与大规模量产测试场景。这种“兼容+高效”的双重优势，既能满足企业多元测试需求，又能降低设备投入与场地占用成本，助力企业优化测试流程，提升核心竞争力。
