全自动探针台：全流程自动化，推动芯片测试智能化转型
来源:
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作者:标谱半导体
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发布时间: 2026-02-05
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自动化升级，破解人工测试痛点
传统芯片测试依赖人工操作，不仅效率低下，还易因人为失误导致测试数据偏差，难以适配规模化芯片生产需求。随着半导体产业智能化转型加速，自动化测试成为企业提升测试效率与品质的关键。标谱全自动探针台实现从上下料到测试、数据采集的全流程自动化，推动芯片测试环节智能化升级。
自动化上下料，解放人力提升效率
设备内置一体式自动上下料机构，可实现芯片的自动输送、定位与收纳，全程无需人工手动干预，彻底摆脱对人工的依赖。自动化上下料不仅大幅提升了测试效率，还避免了人工操作导致的芯片损伤与定位偏差，减少不良品产生，同时降低企业人力投入成本，适配大规模芯片量产测试需求。
自动精准测试，保障数据可靠性
依托高精度运动控制与视觉系统，设备可自动完成芯片定位、探针对位、电性与光学参数采集等全流程测试工作。探针主动下压点亮芯片，高精度测试仪同步采集测试数据，全程无需人工介入，避免人为操作对测试数据的干扰，确保测试数据的准确性与一致性，契合行业检测标准对数据可靠性的要求。
自动化赋能，优化测试全流程
全流程自动化设计让测试流程衔接更顺畅，减少人工等待环节，大幅缩短单批芯片测试周期。同时，设备可自动记录与整理测试数据，便于企业追溯芯片品质、优化生产工艺，助力企业实现精细化品质管控。标谱全自动探针台以自动化测试能力，为企业搭建智能测试体系，推动产业智能化转型。
