量产测试痛点凸显，高效测试成刚需
随着LED芯片市场需求激增，规模化量产成为行业主流，芯片测试效率直接影响企业产能与市场竞争力。传统探针台多为单针或少数针同步测试，效率低下，难以跟上量产节奏。标谱全自动探针台搭载多针测试架构，最多支持20针同步测试，大幅提升量产芯片测试效率，破解产能瓶颈。
多针协同设计，翻倍提升测试效率
设备采用多针同步测试设计，最多可支持20针同时开展测试工作，相较于传统单针测试设备，测试效率实现跨越式提升。多针协同运作时，设备依旧保持稳定的运行状态与精准的测试精度，可同时完成多颗芯片的电性与光学参数采集，大幅缩短单批芯片测试周期，适配大规模量产场景。
精准协同控制，保障测试一致性
依托标谱自主研发的运动控制与软件系统，多针测试可实现精准协同，每根探针的下压力度、定位精度均能精准把控，确保多颗芯片同时测试时的数据一致性。同时，视觉系统实时监控测试过程，动态调整探针与芯片的对位位置，避免因协同偏差导致的测试误差，保障测试品质。
高效量产适配，助力企业提升产能
多针同步测试的优势，让设备可高效适配芯片规模化量产测试需求，帮助企业快速完成芯片测试、筛选工作，提升产线流转效率。同时，高效测试并未牺牲设备的兼容性与稳定性，设备依旧可适配多类型、多规格芯片，兼顾量产效率与定制化测试需求，助力企业提升产能与市场竞争力。
