全自动探针台：适配CSP LED芯片，打造专属精密测试方案
来源: | 作者:标谱半导体 | 发布时间: 2026-02-05 | 27 次浏览 | 分享到:


CSP芯片兴起，测试技术需同步升级

CSP LED芯片凭借体积小、发光效率高、散热性好等优势，广泛应用于显示、照明等领域，市场需求持续增长。但CSP芯片结构精密、尺寸微小，对测试设备的精度与兼容性提出了更高要求。标谱全自动探针台针对CSP LED芯片的测试特性，优化测试方案，打造专属精密测试解决方案。

高精度适配，契合CSP芯片微小尺寸需求

CSP LED芯片尺寸微小，对定位精度与测试精度的要求远超普通LED芯片。设备搭载高精度XYθ工作台及视觉组件，XY重复定位精度≤5μm，可实现CSP芯片的精准定位与探针对位，避免因定位偏差导致的测试数据失真。同时，高清视觉系统可捕捉芯片细微电极结构，确保探针与电极稳定接触，保障测试可靠性。

专属测试优化，精准采集核心参数

针对CSP LED芯片的光学与电性特性，设备优化了测试流程与参数设置，可精准采集芯片的光通量、峰值波长、正向电压等核心参数，全面评估芯片性能。依托自主研发的光电测试软件，可快速处理测试数据，实现芯片品质分档，助力企业提升CSP芯片品质管控水平，契合行业标准对精密芯片测试的要求。

灵活兼容，兼顾多元CSP芯片规格

设备可适配3×3~120×120mil的宽尺寸范围，可覆盖不同规格CSP LED芯片的测试需求，无需更换核心组件，只需调整测试参数即可完成切换。同时，多针同步测试功能可提升CSP芯片量产测试效率，兼顾精密测试与高效量产，为CSP LED芯片生产企业提供一体化测试支撑。